奧林巴斯Vanta Element XRF系列中的兩款分析儀就配備了兩種不同的探測器:Vanta Element分析儀裝配有PIN探測器,而Vanta Element-S分析儀裝配有SDD探測器。 這些較輕元素的定量性檢測只能由裝配有SDD探測器的分析儀完成。許多人因此錯誤地認為不能使用裝配了PIN探測器的分析儀對鋁合金進行分揀。但是,配備了PIN探測器的分析儀可以基于較重元素(如:銅、鉻或鐵)的含量對許多鋁合金牌號進行分揀。當然要進行更細微的區分,如:鎂含量不同的6061鋁和6063鋁,需要使用配備了SDD探測器的分析儀。 2、您是否需要較低的檢出限? 如果您需要PIN探測器,那么請您仔細了解一下我們的初級Vanta Element分析儀,這款價格實惠的分析儀可以對合金進行辨別。 符合IP54評級標準,具有防塵、防潮的特性。 通過了墜落測試(MIL-STD-810G),可避免分析儀在墜落時受到損壞,從而減少了對分析儀進行高成本維修的需求。 Axon技術有助于迅速可靠地完成檢測。 借助奧林巴斯科學云系統 ,可以實現云連接和現代化的數據共享。哪種分析儀更適合您?
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